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电子显微镜

双束场发射扫描电子显微镜(Dual Beam FEG SEM)

发布者:中国科学院生物物理研究所蛋白质科学研究平台 时间:2016年09月04日

双束场发射扫描电子显微镜(Dual Beam FEG SEM)

双束场发射扫描电子显微镜(Dual Beam FEG SEM)

型号:
FEI Helios NanoLab 600i

购入(安装)时间:
2012年5月

主要性能和指标:

场发射电子枪,电子束加速电压:350 V - 30 kV;Ga离子枪,离子束加速电压:500 V – 30 kV;分辨率:0.8 nm (@30kV, STEM),0.9 nm (@15kV, SE), 1.4 nm (@1kV, SE);配备Pt气体沉积源;配置PP3000T冷冻样品传递系统和冷冻样品台;安装Auto Slice & View软件可以实现自动化离子束切割成像。


主要功能和服务范围:

生物样品大尺度连续切片扫描电子显微成像和三维重构(SBFSEM技术);生物样品含水冷冻切片加工;生物样品表面超微结构观察;冷冻扫描电子显微成像等。

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